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SEMICON & OPTO半導體設備

半導體設備

自動光學檢測儀

Jin Bun自動光學檢測

E-3000

  1. 客制化:滿足客戶個別需求,量身訂做特殊功能

  2. 高解析度:可判別微少不良

  3. 共用性高:搭載變倍鏡頭,更換晶片規格只需調整倍率,不需更換鏡頭

  4. 圖像存儲:可存儲存各站正、反面NG及OK最近檢測各200筆圖像

  5. 圖像顯示:運行可即時顯示各站良品或不良品圖像

  6. 自訂分類:可自由設定不良名稱及吹氣分類,方便管理。

  7. SSD硬碟:利用先進電腦硬體,快速開機,減少等待時間

  8. 人性介面:容易操作使用。

  9. 高定位精度:采用超高解析度ENCODER,不誤判混料,不洗盤

  10. 生產統計顯示:可即時顯示各站各項不良統計值。


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