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SEMICON & OPTO半導體設備

半導體設備

X射線檢查機

Nordson Dage Quadra Series X射線檢測系統

Quadra 3/ Quadra 5/ Quadra 7

  1. 更好的清晰度

    高達670萬像素的圖像分辨率提供令人滿意的亮度、對比度、空間分辨率、景深以及灰度,向您呈現更清晰的圖像,并進一步簡化您的分析。

  2. 更快速的檢測

    高達30幀/秒的增強版實時檢測技術可實現實時圖像處理,快速提供最佳圖片以最大化處理量。

  3. 保持圖像銳度

    QuadraNT? X射線管提供的高分辨率圖像在高倍放大下仍能保持無與倫比的清晰度QuadraNT?為您提供銳利清晰的圖像,特征分辨率為0.1微米時,目標功率達10瓦,或特征分辨率為0.3微米時,目標功率達20瓦。

  4. 易于使用

    機殼的設計符合人體工程學,可優化用戶與系統交互的方式操作人員可迅速啟動和運行可直觀操作的Gensys?檢測軟件。


Nordson DAGE Explorer one X射線檢測系統

  1. 獨特的集成技術

    Explorer? one 在圖像鏈的每個步驟都具有專有技術,從生成和檢測X射線到圖像增強和測量。每個組件都有一個目的:為電子檢測創建最高質量的圖像。

  2. Quadra? X射線管技術

    高質量的圖像從X射線源開始。Explorer one使用QuadraNT?X射線管技術(也適用于我們的Quadra系列X 射線檢測工具)在每個功率級提供市場領先的圖像質量,而無需維護。

  3. 專門設計用于電子器件的檢測

    能查看小至2μm的產品特性,這種高清細節的檢測功能與只是 檢測鍵合是否存在有著很大的區別。專為Explorer one 開發的AspireFP? one平板探測器經過優 化,能在電子樣品中實現最高對比度。

  4. 顯示最精細的細節

    超過30種先進的過濾器可以顯示最清晰的圖像并展示最精細的細節,讓您更快地找到特征和缺陷。

  5. 一直朝上

  6. 絕對不會看錯方向。無論您從哪個側面觀察,Explorer one 獨特的雙軸傾斜觀察功能均可使電路板朝上,樣品肯定不會旋轉。

Nordson DAGE Jade Plus X射線檢測系統

  1. Jade Plus可以獨特地檢測您的產品品質。

  2. 內置尺寸測量工具、BGA空洞分析、凸點直徑和圓度以及通孔填充,可快速查找并表征缺陷,幫助您達到IPC-A-610和IPC-7095合規標準。

  3. 0.95μm解析度決定了是否能在無源元件中發現微裂紋。

  4. 諾信DAGE雙傾斜角探測器的獨特幾何結構是檢測缺陷的最快路徑,而這些缺陷僅在特定視角下才能看見。

  5. 第四代開放管技術非常適合以微米級解析度檢測電子樣品。

  6. Gensys軟件專為電子檢測而開發,將全面的測量工具和自動化整合到一個可以快速學會的直觀點擊式平臺中,因此您可以更快地獲得最大的生產力。

  7. QuadraGEN專為Quadra?系列高解析度X射線檢測系統而設計,可提供高質量X射線圖像所需的功率和穩定性。


Nordson MATRIX X系列平臺

  1. 高速AXI系統用于在線檢測

  2. 微焦斑X射線燈管(閉管/免維護)

  3. 帶線性馬達驅動的多軸可編程運動系統

  4. 數字CMOS平板探測器

  5. 自動灰階和幾何校準

  6. 條形碼掃描槍可用于讀取序列號和檢測程序切換

  7. 支持多種工業4.0標準的MES接口,實現全檢測流程可追溯

  8. 符合IPC-CFX標準


Nordson MATRIX X# Series在線式自動化X射線系統

X2#/ X2.5#/ X3#

  1. 靈活的AXI系統,可用于在線或離線自動化檢測

  2. 微焦斑X射線燈管(閉管/免維護)

  3. 多軸可編程伺服馬達傳動系統

  4. 數字CMOS平板探測器

  5. 自動灰階幾何及校驗

  6. 靈活配置:可提供在線Pass through模式或同側進出板配置

  7. 配置條碼掃描槍后可進行條碼讀取及機種選擇

  8. 客制化的MES平臺提供了完整的追蹤系統接口


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